Microscopia de Fuerza Atomica
Microscopia de Fuerza Atomica (AFM), en sus siglas en ingles, es una poderosa tecnica usada para intevestigar un amplio rango de propiedades a escala nanometrica, que incluye topografia de muestras y mecanica, por nombrar algunos. Para imagenes, una punta afilada rastrea la superficie, iluminando su estructura. Tipicamente la superficie se crea grabando la deflexion de una viga flotante (movimiento), la cual se mide monitorando la reflexion de un punto de laser sobre la viga flotante a traves de una serie de fotodiodos.
