掃瞄式電子顯微鏡 (SEM)

掃瞄式電子顯微鏡觀察 (由上至下): 電子源, 聚光鏡, 聚光孔, 聚光鏡, 物鏡孔, 掃描線圈, 物鏡, 樣本

掃瞄式電子顯微鏡運用精密的電子數來掃描樣本表面來產生影像。 而影像是藉由偵測電子放出自樣本的量來描畫的。 而這樣的科技也使得研究人員得以偵測精密至奈米的程度。