Un microscopio electronico de barrido (SEM)

Un microscopio electronico de barrido (SEM), en sus siglas en ingles, puede escanear la superfice de una muestra con un haz de electrones con alta precision de enfoque, para crear una image. El intercambio de energia del haz de electrones resulta en la emision de electrones que se detectan para producir la imagen. Esta tecnica permite la deteccion de rasgos con un 1nm de separacion.